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三箱式冷熱沖擊試驗箱

更新時間:2024-11-11
型號:LQ-TS-80A
訪問次數(shù):1364
三箱式冷熱沖擊試驗箱是根據(jù)用戶要求設(shè)計制造,適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機及零部件的高低溫沖擊試驗及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗。供用戶對整機(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應(yīng)的氣候環(huán)境加速試驗,以便對試品或試品試驗行為作出評價。
  • 詳細內(nèi)容
品牌其他品牌價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域化工,建材,電子,航天,汽車

三箱式冷熱沖擊試驗箱是根據(jù)用戶要求,參照GJB150.5、GJB360.7、GJB367.2溫度沖擊試驗相應(yīng)技術(shù)條件制造。主要用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度,借以在最短時間內(nèi)試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害,適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子…等材料,可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。

三箱式冷熱沖擊試驗箱適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機及零部件的高低溫沖擊試驗及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗。供用戶對整機(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應(yīng)的氣候環(huán)境加速試驗,以便對試品或試品試驗行為作出評價。


性能參數(shù)參考如下:

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠家還免費配高溫至150度)。

二、溫度偏差:±2℃。

三、溫度波動度:±0.5℃。

四、溫度恢復(fù)時間:≤5min。

五、溫度恢復(fù)條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式:采用氣動驅(qū)動。   

七、高溫室儲溫的升溫時間:30min (+25℃~+200℃)。

八、低溫室儲溫的降溫時間:65min (+25℃~-75℃)。

九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音:(dB)≤65( 標準規(guī)定≤65分貝不算噪音)

十、型號             內(nèi)箱尺寸(mm)             外箱尺寸(mm)           功率(kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0

 

柳沁科技LQ-TS芯片測試冷熱沖擊實驗箱示例圖1

柳沁科技LQ-TS芯片測試冷熱沖擊實驗箱示例圖2

柳沁科技LQ-TS芯片測試冷熱沖擊實驗箱示例圖3



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